Scan and ATPG (Tessent)----1.基础概念

1、测试的目的 筛选出有错误的芯片。 2、测试的类型 功能测试——验证电路的功能。 制造测试——验证设计有没有制造缺陷 制造试验类型： 扫描测试、扫描压缩测试、BIST(Memory te ...